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介电常数测试的主要意义和用途介绍

更新时间:2021-11-20      点击次数:3308


一、介电常数测试的主要意义和用途:


1电容率(即介电常数)——绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至醉小。影响电容率的因子讨论见附录X3

交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至醉小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3

3相关性——当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。


显示数据介绍:

 

C1

材料拿出后,谐振时测得的电容值

C2

材料在夹具中,谐振时测得的电容值

Q1

材料拿出后,谐振时测得的Q值

Q2

材料在夹具中,谐振时测得的Q值

CZ

主机+测试夹具测得的结构电容值

CL

标准电感的分布电容值

C0

结构电容值+电感的分布电容值

D2

材料的厚度

tn

介质损耗系数/介质损耗正切值

 


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