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介电常数介质损耗测试仪测试方法与步骤

发表时间:2021-06-18  |  点击率:229
   介电常数介质损耗测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
  介质损耗测试方法与步骤:
  1. 分布容量的测量
  a) 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;
  b) 将调谐电容器调到大值附近500P左右,令这个电容是C1,
  c) 按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q1;
  d) 将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,测出材料厚度后取出材料,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C2,Q值读数为Q2。
  机构电容的有效电容为:Cz= C1-C2
  分布电容为机构电容CZ和电感分布电容C0(参考电感的技术说明)的和电容器损耗角正切为公式里的C0只是电感的分布电容值,不是主机软件显示的C0
  2. 把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。
  3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈
  4. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。
  5. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值大值)上,然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x,记住厚度D2的值。
  6. 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值大值)上。
  7. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1,同时显示介质损耗系数tn =.x x x x x ,即完成测试。
  8. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。
 
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