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介电常数测试仪器

简要描述:介电常数测试仪器信号源范围DDS数字合成信号
10KHZ-70MHz
10KHZ-110MHz
100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比
7000:1 11000:1 16000:1
信号源频率精度 6位有效数

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-06-25
  • 访  问  量:1482

详细介绍

 

介电常数测试仪器

 介电常数/介质损耗测试系统系统组成:

1. 主机:LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表

功能名称:

LJD-B

LJD-A

LJD-C

信号源范围DDS数字合成信号

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

 

100KHZ-160MHz

信号源频率覆盖比

7000:1

11000:1

16000:1

信号源频率精度 6位有效数

3×10-5 ±1个字  

3×10-5 ±1个字   

3×10-5 ±1个字   

采样精度

11BIT

11BIT

12BIT

高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性

Q测量范围

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

1-1000自动/手动量程

Q分辨率

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

4位有效数,分辨率0.1

Q测量工作误差

<5%

<5%

<5%

电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H  分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

电感测量误差

<3%

<3%

<3%

调谐电容

主电容30-540pF

主电容30-540pF

主电容17-240pF

电容直接测量范围

1pF2.5uF

1pF2.5uF

1pF25nF

调谐电容误差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

谐振点搜索

自动扫描

自动扫描

自动扫描

Q合格预置范围 

5-1000声光提示

5-1000声光提示

5-1000声光提示

Q量程切换

自动/手动

自动/手动

自动/手动

LCD显示参数

FLCQLtCt波段等

FLCQLtCt波段等

FLCQLtCt波段等

自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能()

大电容值直接测量显示功能()

测量值可达2.5uF

测量值可达2.5uF

测量值可达25nF

介质损耗系数

精度 万分之

精度 万分之

精度 万分之

最小介损系数

万分之

万分之

万分之

介电常数

精度 千分之一

精度 千分之一

精度 千分之一

材料测试厚度

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

0.1mm-10mm

USB接口

不支持

不支持

支持

 介电常数测试仪器

2. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)  

液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

3. LKI-1电感组

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

LJD-B-A

LJD-C

1

0.1μH

±0.05μH

200

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0.5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14.8~46.6

15MHz

3

2.5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2.3~8.6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

200

6pF

1~3.75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0.75~2.64

1.06~3.20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0.23~0.84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0.148~0.39

0.25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0.1MHz

10

14NH

±5%

80

8pF

  

100MHZ

注意: 可定制100MHz电感.

LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值

 

三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:

1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

 

 

 

 

四 介电常数和介质损耗界面显示

 1619142829(1).jpg

LJD-C介电常数显示

 1619142805(1).jpg

LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示

1619142766(1).jpg

 

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