薄膜介电常数介质损耗测试仪LJD系列介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数（ε）和介质损耗角（D或tanδ）的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。

LJD系列高低频介电常数介质损耗测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数（ε）和介质损耗角（D或tanδ）的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。

LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪值测量范围:2～1023,量程分档：30100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档固有误差:≤5％±满度值的2％（200kHz～10MHz）,≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz） 工作误差:≤7％±满度值的2％（200kHz～10MHz）,≤8％±满度值的2％（10MHz～160MHz）

陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪GB/T1409在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。

介电常数测定仪LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、介质损耗角正切测试仪、高频/工频介电常数测试仪。作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。 测试频率上限达到目前国内高的160MHz。

介质损耗介电常数测试仪1.信号源:DDS数字合成信号10KHZ-70MHZ *2.信号源频率精度3×10-5±1个字,6位有效数 3．Q值测量范围：1～1023 4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；