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四探针方阻电阻率测试仪

简要描述:四探针方阻电阻率测试仪硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造;GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2020-07-29
  • 访  问  量:756

详细介绍

LST-332普通四探针方阻电阻率测试仪

  1. 四探针方阻电阻率测试仪描述:

   采用范德堡测量原理能解决样品几何尺寸、边界效应探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

二.参照标准:

   硅片电阻率测量的标准(ASTM F84)及国家标准设计制造GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

三.适用范围:

适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析半导体材料质量的工具;液晶显示,自动测量和系数补偿,并带有温度补偿功能,自动转换量程;采用AD芯片控制,恒流输出,选配:PC软件,保存和打印数据,生成报表

用于:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

 

四.型号及参数

 

规格型

LST-332

1.方块电阻范围

10-4~2×105Ω/□

2.电阻率范围 

10-5~2×106Ω-cm

 

测试电流范围

 

10μA,100µA,1mA,10mA,100mA

4.电流精度 

±0.2%

 

5.电阻精度

≤0.3%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 

9.误差

4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻

11.测试探头

探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

 

配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量

 

纵横金鼎仪器-------专注于新材料测量与分析仪器解决方案  

 

----解决材料:

导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.

 

----我们一直在做:

研发、生产、销售研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务.

 

 

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