四探针方阻电阻率测试仪

简要描述：四探针方阻电阻率测试仪硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

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详细介绍

LST-332普通四探针方阻电阻率测试仪

采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.

二.参照标准：

硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

三.适用范围：

适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表

用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

四.型号及参数

规格型	LST-332
1.方块电阻范围	10-4～2×105Ω/□
2.电阻率范围	10-5～2×106Ω-cm
测试电流范围	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度	±0.2%
5.电阻精度	≤0.3%
6.显示读数	液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式	普通单电测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.误差	≤4%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件；选购2.方形探头；选购3.直线形探头；选购4.测试平台；5.标准电阻
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

配套方案：解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状电阻、电阻率、电导率测量

纵横金鼎仪器-------专注于新材料测量与分析仪器解决方案

----解决材料：

导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析.

----我们一直在做：

研发、生产、销售研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务.

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