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薄膜介电常数介质损耗测试仪

描述:薄膜介电常数介质损耗测试仪LJD系列 介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
更新时间:2021-04-14
所在城市:北京市
厂商性质:生产厂家
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