薄膜介电常数介质损耗测试仪

LJD系列 介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。     

LJD系列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～5MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

LJD系列中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。

1薄膜介电常数介质损耗测试仪​ 特点：                            
◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～10⁵

2 薄膜介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～5MHz的ε和D变化的测试。

2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ，  D：±5%±0.0001。

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

2.3 DL916B 介电常数测试装置（含保护电极）

2.3.1 平板电容器极片尺寸：Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三种可选.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.001mm
2.3.3插头间距：与电桥四端配合

2.3.4加温控温装置(选购设备)可以完成高200℃控温精度l℃加热测试。

2.4 Agilent 16451B 介质材料测试装置提供四种不同直径测试电极，

能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。它针对不同试样

可设置为接触电极法，薄膜电极法和

非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

2.4.1 微分头分辨率：10μm

2.4.2 z高耐压：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 电缆长度设置：1m

2.4.4 z高使用频率：30MHz 

2.5 高频介质样品（选购件）：
  在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。

用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

2.6 LJD系列 介电常数测试仪配置