LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪

产品名称：LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪

产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37

符合标准：GB/T1409、GB/T5594

产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试

适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等

测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

主要配置：主机Q表、夹具、电感组成

测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值

使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等

付款方式：全款发货

产品品牌：纵横金鼎

产品货期：1-3个工作日

产品类别：电性能检测仪器

一、LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪概述：

LJD-C型介电常数介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至 ，彻底* Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

LJD-C介电常数介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。

二、主要技术特性：

Q 值测量范围:       2 ～ 1023,量程分档：30100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档

固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

工作误差:≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）

电感测量范围:       4.5nH ～ 140mH

电容直接测量范围:   1 ～ 200pF

主电容调节范围:     18 ～ 220pF

主电容调节准确度:   100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％

信号源频率覆盖范围:  100kHz ～ 160MHz

频率分段 （ 虚拟 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz

频率指示误差        :3 × 10 -5 ± 1 个字

三、夹具工作特性

1.平板电容器：

极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选

极片间距可调范围：≥15mm

2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm

3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

4．测微杆分辨率：0.001mm

四、配置：

主机一台

电感九支

夹具一套

随机文件一套

一、概述

LJD-B/LJD-C介电常数测试仪主要区别

    LJD-B/LJD-C介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介电常数和介质损耗因数，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

LJD-B/LJD-C介电常数测试仪是北京纵横金鼎仪器设备有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达

70MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。LJD-B主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。LJD-C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。LJD-B/LJD-C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感和电容的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-B/LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或LJD-C*的电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。

ASTM D150-11

实心电绝缘材料的交流损耗特性和

电容率（介电常数）的标准试验方法¹

本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。
　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。
1.介电常数测试仪范围
1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。

注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。

1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。^2,3

1.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

¹　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。

当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。

²　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

³　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.介电常数测试仪引用文件
2.1 ASTM标准：⁴

D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法

D618 　　　　试验用塑料调节规程

D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法

D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法

D1711 　　　电绝缘相关术语

D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程

E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程

E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）⁵

3.介电常数测试仪术语

3.1 定义：

3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。

3.2 本标准术语定义：

3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。

3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：

C=q/V 　　　　　　　　　　（1）

3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。

D=K''/K' 　　　　(2)

⁴　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。

⁵　该历史标准的较后批准版本参考网站astm.org。

3.2.2.1 讨论——a：

D=tanδ=cotθ=X_p/R_p=G/ωC_p=1/ωC_pR_p　　　　　　　　(3)

式中：

G=等效交流电导，

X_p=并联电抗，

R_p=等效交流并联电阻，

C_p=并联电容，

ω=2πf（假设为正弦波形状）

耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：

D=ωR_sC_s=1/ωR_pC_p　　　　　　　　(4)

串联和并联部分之间的关系满足以下要求：

C_p=C_s/(1 D²) 　　　　　　　　　　　　(5)

R_p/R_s=(1 D²)/D²=1 (1/D²)=1 Q²　　　　　　　　　　　　　(6)

4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算*的。

三、主要技术特性及配置

主要配置