a. 将被测的绝缘材料样品夹入到平板电容器二极片之间。绝缘材料表面应平整、光滑。尺寸、形状应与电容器极片相一致。调节测量装置的测微杆,使平板电容器二极片夹住样品止。(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松)。然后取出平板电容器中的样品,但要保持平板电容器间的间距不变。
b. 改变Q表上的主调电容容量,使Q表处于谐振点上(既使 Q表上显示的Q值达到Z大值);电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置,再改变Q表上的主调电容容量,重新使之谐振,电容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1。
(4)介质损耗因数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间,改变Q表上的主调电容容量,使Q表处于谐振点上。然后按一次 Q表上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将 显示C0= x x x,此时可输入分布电容值。分布电容值为机构电容CZ和电感分布电容C0(参考电感的技术说明)的和。分布电容值输入的有效位为3位,0.1pF至99.9 pF,输入时不需输入小数点,只需输入3位有效数。例0.1pF,只需输入