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当前位置:首页  >  产品中心   >  介电常数介质损耗测试仪  >  LJD-C介电常数介质损耗

  • 介质损耗及介电常数测定仪不用换算,直接读数, LJD-B/LJD-C高频Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2024-01-16
  • LJD型介电常数介质损耗测试仪是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。

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  • 介电常数测定仪介质损耗测试仪具有正/反接线,内/外标准电容,内/外高压多种工作模式,可做各种常规; 介损试验,不需外接任何辅助设备; 一体化设计,大屏幕背光 LCD 显示,中文图文菜单,缓速连续升压,可迅速;

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  • 介电常数及介质损耗测定仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。

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